16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現(xiàn)貨報(bào)價(jià)
賽默飛FEL 部分配件耗材
16830 離子源
4035 273 12631 拔出極
4035 273 6 7441 光闌
4035 272 35991 抑制極
4035 272 35971 拔出極
1058129 拔出極
1301684 Suppressor 抑制極
1096659 Aperture 光闌
1346158 PT
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統(tǒng)，可為包括磁性和非導(dǎo)電材料在內(nèi)的各種樣品提供出色的樣品制備與 3D 表征性能 。Scios 2 DualBeam 通過創(chuàng)新的功能設(shè)計(jì)提高了通量、精度以及易用性，是滿足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)、政府以及工業(yè)研究領(lǐng)域高級研究和分析需求的理想解決方案。
通常需要進(jìn)行亞表面或三維表征以更好地理解樣品的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。Scios 2 DualBeam 及可選配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟件可提供高質(zhì)量、全自動(dòng)的多模式 3D 數(shù)據(jù)集采集，包括用于最大材料對比度的背散射電子 (BSE) 成像、用于組成信息的能量色散光譜 (EDS) 以及用于微觀結(jié)構(gòu)和晶體學(xué)信息的電子背散射衍射 (EBSD)。與 Thermo Scientific Avizo 軟件組合使用后，Scios 2 DualBeam 可為納米級的高分辨率、高級 3D 表征以及分析提供的工作流程解決方案。
創(chuàng)新的 NICol 電子色譜柱為系統(tǒng)的高分辨率成像和檢測能力提供了基礎(chǔ)。它適用于多種工作條件，無論是在 30 keV 的 STEM 模式下（訪問結(jié)構(gòu)信息）還是以較低能量（獲得無電荷的詳細(xì)表面信息）運(yùn)行，都可以提供出色的納米級細(xì)節(jié)。Scios 2 DualBeam 具有的鏡筒內(nèi) Thermo Scientific Trinity 檢測系統(tǒng)，專用于同時(shí)采集角和能量選擇二級電子 (SE) 以及 BSE 成像數(shù)據(jù)。不僅可以快速訪問從上到下的詳細(xì)納米級信息，還可快速訪問傾斜的樣品或交叉切片的信息。可選配的透鏡下檢測器和電子束減速模式可以快速、便捷地同時(shí)采集所有信號，揭示材料表面或交叉切片中最小的特征。具有全自動(dòng)對齊功能的 NICol 色譜柱，可獲得快速、準(zhǔn)確、可重現(xiàn)的結(jié)果。
科學(xué)家和工程師不斷面臨新的挑戰(zhàn)、需要對越來越復(fù)雜的樣品的更小特征進(jìn)行高度局部表征。Scios 2 DualBeam 的創(chuàng)新與可選、易用和全面的 Thermo Scientific AutoTEM 4 軟件以及賽默飛世爾科技的應(yīng)用專業(yè)知識(shí)相結(jié)合后，可支持客戶快速方便地制備用于多種材料的 自定義高分辨率 S/TEM 樣品。為了獲得高質(zhì)量結(jié)果，需要使用低能量離子進(jìn)行最終拋光，以盡可能減少對樣品表面的損壞。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦離子束 (FIB) 鏡筒不僅能夠在高電壓下具有高分辨率成像和銑削能力，還具有良好的低電壓性能，能夠創(chuàng)建高質(zhì)量的 TEM 薄片。
16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現(xiàn)貨報(bào)價(jià)
主要特點(diǎn)
快速、便捷的制備
使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質(zhì)量、現(xiàn)場特定的 TEM 和原子探針樣品。
使用在廣泛的樣品范圍（包括磁性和非導(dǎo)電材料）內(nèi)具有性能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜柱。
通過各種集成式色譜柱內(nèi)和透鏡下檢測器獲得清晰、精確和無電荷的對比度。
使用可選配的 AS&V4 軟件，通過精確靶向感興趣區(qū)域來獲得高質(zhì)量、多模式亞表面和 3D 信息。
高度靈活的 110 mm 載物臺(tái)和腔室內(nèi) Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機(jī)允許根據(jù)具體應(yīng)用需求進(jìn)行定制。
具有專用模式，如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。
靈活的 DualBeam 配置，包括可選配的最高 500 Pa 腔室壓力低真空模式，可滿足具體的應(yīng)用要求。
規(guī)格
電子束分辨率 | · 最佳 WD o 在 30 keV STEM 下為 0.7 nm o 在 1 keV 下為 1.4 nm o 在 1 keV（射束減速）下為 1.2 nm |
電子束參數(shù)空間 | · 電子束電流范圍：1 pA 至 400 nA · 著陸能量范圍：20* eV – 30 keV · 加速電壓范圍：200 V – 30 kV · 最大水平射野寬度：7 mm WD 時(shí)為 3.0 mm，60 mm WD 時(shí)為 7.0 mm · 可通過標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)航剪輯提供超寬視野 (1×) |
離子光學(xué)系統(tǒng) | · 加速電壓：500 V – 30 kV · 電子束電流范圍：1.5 pA – 65 nA · 15 位置光闌條 · 漂移抑制模式，為非導(dǎo)電樣品的標(biāo)準(zhǔn)模式 · 最小離子源壽命：1,000 小時(shí) · 離子束分辨率：選擇角方法下 30kV 時(shí)為 3.0 nm |
檢測器 | · Trinity 檢測系統(tǒng)（鏡筒內(nèi)和色譜柱內(nèi)） o T1 分段式下鏡筒內(nèi)檢測器 o T2 上鏡筒內(nèi)檢測器 o T3 可伸縮色譜柱內(nèi)檢測器（可選配） o 多達(dá) 4 個(gè)同時(shí)檢測的信號 · Everhart-Thornley SE 檢測器 (ETD) · 用于二級離子 (SI) 和二級電子 (SE) 的高性能離子轉(zhuǎn)換和電子檢測器 (ICE)（可選配） · 可伸縮、低電壓、高對比度、分段式、固態(tài)反向散射電子檢測器 (DBS)（可選配） · 帶 BF/DF/HAADF 分段的可伸縮 STEM 3+ 檢測器（可選配） · 查看樣品和腔室的 IR 攝像機(jī) · 腔室內(nèi) Nav-Cam 樣品導(dǎo)航攝像機(jī)（可選配） · 集成的光束電流測量 |
載物臺(tái)和樣品 | 靈活的 5 軸電動(dòng)平臺(tái)： · XY 范圍：110 mm · Z 范圍：65 mm · 旋轉(zhuǎn)：360°（無限） · 傾斜范圍：-15° 至 +90° · XY 重復(fù)性：3 μm · 最大樣品高度：與共心點(diǎn)間距 85 mm · 0° 傾斜時(shí)的最大樣品重量：5 kg （包括樣品架） · 最大樣品尺寸：*旋轉(zhuǎn)時(shí) 110 mm（也可以是更大的樣品，但旋轉(zhuǎn)有限） · 計(jì)算中心旋轉(zhuǎn)和傾斜 |
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